晶圆分选 / EFEM

IL C3600

IL C3600 远不止是一套高性能晶圆分选系统。凭借灵活的设备理念,它同样非常适合作为用于自动化工艺、测量与检测应用的 EFEM(设备前端模块)。

IL C3600 中正在扫描晶圆的红光
模块化

一个平台——多种应用

IL C3600 的突出优势在于其模块化且可适配的架构。系统可根据客户需求配置不同的搬运与功能模块,并针对特定测量与检测任务进行定制。

由此形成一个灵活的平台,适用于需要将自动化晶圆搬运、测量与检测相结合的应用。当然,也可实现客户定制集成以及外部系统对接。

厚度测量
AOI
人工光学检测
边缘扫描
正面或背面扫描
XRD
可靠性

精密搬运与智能集成相结合

针对 300mm 晶圆处理,IL C3600 配备单臂或双臂机器人,并可配置最多五个自动 FOUP Loadport。系统在 ISO 3 迷你环境中运行,并支持通过 AGV、PGV 和 OHT 实现自动上料。

因此,IL C3600 为现代生产与测试环境提供理想基础——可作为分选系统、EFEM,或作为用于测量与检测解决方案的集成搬运平台。

IL C3600 检测室中的显示屏操作
+49 8143 24195-0sales@il-semi.com交通路线个人支持

IL C3600 资料下载

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  • 产品目录PDF · 6.0 MB
  • IL C3600 技术数据表PDF · 237.6 KB

文件为英文版。

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